摘要:本文利用掃描電鏡和透射電鏡,對 Ni-20Mo-10Cr(at.%)高溫合金中納米級 Ni2(Cr,Mo)超點陣析出相進行了系統(tǒng)的電子顯微學(xué)分析,發(fā)現(xiàn) Ni2(Mo,Cr)超點陣相和基體γ相之間存在兩種特定的取向關(guān)系,分別是:[010]Ni2(Mo,Cr)//[001]γ,(002)Ni2(Mo,Cr)//(220)γ和[111]Ni2(Mo,Cr)//[112]γ,(011)Ni2(Mo,Cr)//(311)γ。
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電子顯微學(xué)報雜志, 雙月刊,本刊重視學(xué)術(shù)導(dǎo)向,堅持科學(xué)性、學(xué)術(shù)性、先進性、創(chuàng)新性,刊載內(nèi)容涉及的欄目:研究論文、納米材料應(yīng)用專欄、實驗技術(shù)與方法、綜述等。于1982年經(jīng)新聞總署批準的正規(guī)刊物。