《Ieee Electron Device Letters》雜志投稿后多久回復(fù)取決于雜志審稿速度：預(yù)計 約1.3個月 。投稿前請仔細(xì)閱讀相關(guān)投稿須知，有任何疑問可以聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服。

《Ieee Electron Device Letters》雜志于1980年創(chuàng)刊，刊號為ISSN：0741-3106，EISSN：1558-0563，是一本專注于工程技術(shù) - 工程：電子與電氣領(lǐng)域的SCIE期刊，出版周期為：Monthly，目前未開放OA（未開放訪問）。主要發(fā)表由專家撰寫的簡短且易于理解的文章，內(nèi)容精煉且具有較高的學(xué)術(shù)價值，特別適合那些希望快速了解某一特定研究方向最新進展的讀者。

IEEE Electron Device Letters 發(fā)表與電子和離子集成電路器件和互連的理論、建模、設(shè)計、性能和可靠性有關(guān)的原創(chuàng)性和重要貢獻，涉及絕緣體、金屬、有機材料、微等離子體、半導(dǎo)體、量子效應(yīng)結(jié)構(gòu)、真空器件和新興材料，應(yīng)用于生物電子學(xué)、生物醫(yī)學(xué)電子學(xué)、計算、通信、顯示器、微機電學(xué)、成像、微執(zhí)行器、納米電子學(xué)、光電子學(xué)、光伏、功率集成電路和微傳感器。

在收錄情況方面，《Ieee Electron Device Letters》雜志在中科院最新升級版分區(qū)表中，該雜志分區(qū)信息為大類學(xué)科工程技術(shù)2區(qū)，影響因子為4.1，CiteScore為8.2，在工程技術(shù) - 工程：電子與電氣領(lǐng)域的排名較為靠前，其 SJR為 1.25，SNIP為1.5，h-index指數(shù)為135，這些數(shù)據(jù)都反映出期刊在學(xué)術(shù)界具有較高的影響力和學(xué)術(shù)價值。

投稿SCI期刊后收到回復(fù)的時間因多種因素而異，具體時間如下：

初審階段：編輯初審?fù)ǔＴ?-4周內(nèi)完成，主要檢查論文的格式、規(guī)范性以及是否符合期刊的基本要求。

同行評審階段：若論文通過初審，編輯會將其發(fā)送給多位同行評審人進行詳細(xì)評估。這一階段是整個審稿過程中最耗時的部分，通常需要1-3個月。

終審階段：編輯在得到審稿人的反饋后，會根據(jù)審稿人的意見給出接收、小修、大修、拒稿等結(jié)果。這一階段的時間相對較短，通常在收到審稿意見后幾天到一周內(nèi)完成。

投稿者在選擇期刊時，應(yīng)考慮到審稿周期，并做好長期等待的準(zhǔn)備，同時也要注意不同期刊的具體要求和效率可能大相徑庭。

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