《Ieee Design & Test》雜志是一本專注于工程技術領域的高質量期刊，該雜志的錄用率受多種因素影響，想具體了解可聯系雜志社或咨詢在線客服。

《Ieee Design & Test》雜志的錄用率受多種因素影響，具體如下：

年發文量：《Ieee Design & Test》雜志年發文量為：59篇。年發文量較大的期刊，相對而言錄用率會高一些。

質量與創新性：論文的科學性、嚴謹性、數據可靠性以及創新性是關鍵。

期刊分區：《Ieee Design & Test》雜志在中科院的分區為4區，而在JCR的分區為Q3。

論文質量：包括研究設計的合理性、數據的可靠性、分析方法的科學性等。

影響力與排名：《Ieee Design & Test》雜志IF影響因子為：1.9。高影響力的期刊通常對論文質量要求更高，錄用率相對較低。

審稿流程：嚴格的多輪審稿流程會篩選掉部分稿件，導致錄用率下降。

投稿數量：在特定時期內，若大量研究者集中向某期刊投稿，會導致稿件堆積，錄用率下降。

SCI期刊的錄用率受多重因素影響，作者應根據自身研究特點選擇合適的期刊，并確保稿件質量以提高錄用機會，投稿前務必仔細閱讀期刊的投稿指南，并與雜志社保持良好溝通。

《Ieee Design & Test》雜志簡介

中文簡稱：IEEE設計與測試
國際標準簡稱：IEEE DES TEST
出版商：IEEE Computer Society
出版周期：6 issues/year
出版年份：2013年
出版地區：UNITED STATES
ISSN：2168-2356
ESSN：2168-2364
研究方向：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE - ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC

《IEEE 設計與測試》提供原創作品，介紹用于設計和測試微電子系統（從設備和電路到完整的片上系統和嵌入式軟件）的模型、方法和工具。該雜志側重于當前和近期的實踐，包括教程、操作方法文章和真實案例研究。該雜志力求通過專欄、訪談和圓桌討論，向讀者介紹重要的技術進步以及技術領導者的觀點。主題包括半導體 IC 設計、半導體知識產權模塊、設計、驗證和測試技術、制造和產量設計、嵌入式軟件和系統、低功耗和節能設計、電子設計自動化工具、實用技術和標準。

在中科院分區表中，大類學科為工程技術4區， 小類學科為COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計算機：硬件4區。

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